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恭喜皓天公司與某家半導(dǎo)體公司合作成功

近年來(lái)，隨著新能源汽車的快速崛起，在芯片的國(guó)產(chǎn)化浪潮下，國(guó)產(chǎn)芯片的出貨量和替代率近年來(lái)迅速飆升。為了抓住商機(jī)，爭(zhēng)取項(xiàng)目和訂單，需要完成可靠性環(huán)境測(cè)試。其中半導(dǎo)體芯片，IC芯片、車規(guī)芯片等測(cè)試，需要用到AEC-Q100測(cè)試，介紹如下：

- AEC-Q100測(cè)試：這是適用于車用芯片的綜合可靠性測(cè)試，也是汽車行業(yè)零部件供應(yīng)商生產(chǎn)的重要指南。通過(guò)AEC-Q100測(cè)試，能夠保障芯片長(zhǎng)期可靠能用，即不損壞。

- 環(huán)境應(yīng)力加速驗(yàn)證：包括高溫、低溫、濕熱、振動(dòng)、沖擊等測(cè)試，以評(píng)估芯片在環(huán)境下的性能和可靠性。

- 壽命加速模擬驗(yàn)證：通過(guò)模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中的工作條件，評(píng)估其壽命和可靠性。

- 封裝驗(yàn)證：評(píng)估芯片封裝的可靠性和耐用性，包括封裝材料、封裝工藝等方面。

- 其他測(cè)試：包括芯片制造可靠性測(cè)試、封裝組裝完整性測(cè)試等